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发光学报
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Au-Zn,TiPdAu电极对InGaAsP/InP双异质结发光管可靠性影响的研究
Au-Zn,TiPdAu电极对InGaAsP/InP双异质结发光管可靠性影响的研究
张桂成
程宗权
发光学报
1989,Vol.10
Issue(3):P.198-205,8.
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发光学报
1989,Vol.10
Issue(3)
:P.198-205,8.
Au-Zn,TiPdAu电极对InGaAsP/InP双异质结发光管可靠性影响的研究
张桂成
1
程宗权
1
作者信息
1.
中国科学院上海冶金研究所
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摘要
关键词
双异质结
/
发光管
/
InGaAsP/InP
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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张桂成,程宗权..Au-Zn,TiPdAu电极对InGaAsP/InP双异质结发光管可靠性影响的研究[J].发光学报,1989,10(3):P.198-205,8.
发光学报
OA
CSCD
ISSN:
1000-7032
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