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正电子湮没技术（PAT）的开发与应用（五）：样品测试与正电子湮没寿命谱...

万玉金朱育群

电子器件Issue(3)：19-26,8.

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电子器件Issue(3)：19-26,8.

正电子湮没技术（PAT）的开发与应用（五）：样品测试与正电子湮没寿命谱...

万玉金 ¹朱育群¹

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摘要

关键词

正电子/湮没技术/样品测试/寿命谱

分类

数理科学

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万玉金,朱育群..正电子湮没技术（PAT）的开发与应用（五）：样品测试与正电子湮没寿命谱...[J].电子器件,1990,(3):19-26,8.

电子器件

ISSN：1005-9490

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