|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|真空电子技术|一种新的检漏方法——负压采样法

一种新的检漏方法——负压采样法

曹辉玲

真空电子技术Issue(2)：41-45,26,6.
✕
真空电子技术Issue(2)：41-45,26,6.

一种新的检漏方法——负压采样法

曹辉玲1

作者信息

  • 1. 北京真空电子技术研究所
  • 折叠

摘要

关键词

检漏工程/负压采样法/真空检漏

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

曹辉玲..一种新的检漏方法——负压采样法[J].真空电子技术,1998,(2):41-45,26,6.

真空电子技术

1002-8935

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文