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X-射线荧光光谱铝环-双层压片法测定少量土壤中的化学元素

喻德科

分析化学1992，Vol.20Issue(2)：P.176-179,4.
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分析化学1992，Vol.20Issue(2)：P.176-179,4.

X-射线荧光光谱铝环-双层压片法测定少量土壤中的化学元素

喻德科1

作者信息

  • 1. 中国科学院兰州地质研究所,兰州730000
  • 折叠

摘要

关键词

土壤/双层压片/X射线荧光法

分类

农业科技

引用本文复制引用

喻德科..X-射线荧光光谱铝环-双层压片法测定少量土壤中的化学元素[J].分析化学,1992,20(2):P.176-179,4.

分析化学

OA北大核心CSCD

0253-3820

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