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用微机控制的高分辨率三晶体X射线衍射仪究研GaInP外延层的超结构

M.Sutton 顾天巨 石玉山 梁家昌

计量学报1992,Vol.13Issue(1):59-63,5.
计量学报1992,Vol.13Issue(1):59-63,5.

用微机控制的高分辨率三晶体X射线衍射仪究研GaInP外延层的超结构

M.Sutton 1顾天巨 1石玉山 1梁家昌2

作者信息

  • 1. 加拿大McGill大学物理系
  • 2. 中国民航学院基础部
  • 折叠

摘要

关键词

微机/X射线/衍射仪/GaInP/合金

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

M.Sutton,顾天巨,石玉山,梁家昌..用微机控制的高分辨率三晶体X射线衍射仪究研GaInP外延层的超结构[J].计量学报,1992,13(1):59-63,5.

基金项目

国家自然科学基金 ()

中国科学院长春物理研究所激发态物理开放实验室基金 ()

计量学报

OACSCD

1000-1158

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