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FeMnSi基合金中层错几率的X衍射线形分析法测定

漆璿 江伯鸿 徐祖耀

理化检验：物理分册1998，Vol.34Issue(2)：P.16-18,3.
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理化检验：物理分册1998，Vol.34Issue(2)：P.16-18,3.

FeMnSi基合金中层错几率的X衍射线形分析法测定

漆璿 1江伯鸿 1徐祖耀1

作者信息

  • 1. 上海交通大学,上海200030
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摘要

关键词

形状记忆合金/层错几率/线形分析/铁锰硅基

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

漆璿,江伯鸿,徐祖耀..FeMnSi基合金中层错几率的X衍射线形分析法测定[J].理化检验：物理分册,1998,34(2):P.16-18,3.

基金项目

国家自然科学基金重点项目(59331020) （59331020）

理化检验：物理分册

1001-4012

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