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真空电子技术
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微型单色显像管图形畸变参量测试图像计算机分析
微型单色显像管图形畸变参量测试图像计算机分析
樊珩
汪健如
真空电子技术
Issue(1)：5-8,4.
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真空电子技术
Issue(1)
：5-8,4.
微型单色显像管图形畸变参量测试图像计算机分析
樊珩
1
汪健如
1
作者信息
1.
清华大学电子工程系
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摘要
关键词
图形畸变
/
扫描线
/
图像计算机分析
/
单色显像管
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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樊珩,汪健如..微型单色显像管图形畸变参量测试图像计算机分析[J].真空电子技术,1998,(1):5-8,4.
真空电子技术
ISSN：
1002-8935
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