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高频压力振荡引起压电式传感器受损现象的分析

栗保明 官汉章 焦化南

测试技术学报1995，Vol.9Issue(1)：23-27,5.
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测试技术学报1995，Vol.9Issue(1)：23-27,5.

高频压力振荡引起压电式传感器受损现象的分析

栗保明 1官汉章 1焦化南1

作者信息

  • 1. 南京理工大学
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摘要

关键词

高频压力振荡/喷射燃烧/损坏/现象/压力测量/耐用性/改善/再生/口径/分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

栗保明,官汉章,焦化南..高频压力振荡引起压电式传感器受损现象的分析[J].测试技术学报,1995,9(1):23-27,5.

测试技术学报

1671-7449

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