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非接触式半导体少子寿命测试方法——微波反射法

王正秋 龚海梅 李言谨 周宝庆 方家熊

红外与毫米波学报1996，Vol.15Issue(1)：P.77-80,4.
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红外与毫米波学报1996，Vol.15Issue(1)：P.77-80,4.

非接触式半导体少子寿命测试方法——微波反射法

王正秋 1龚海梅 1李言谨 1周宝庆 1方家熊1

作者信息

  • 1. 中国科学院上海技术物理研究所
  • 折叠

摘要

关键词

少子寿命/微波反射法/汞镉碲

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王正秋,龚海梅,李言谨,周宝庆,方家熊..非接触式半导体少子寿命测试方法——微波反射法[J].红外与毫米波学报,1996,15(1):P.77-80,4.

红外与毫米波学报

OA北大核心CSCD

1001-9014

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