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CCD成像器件的不均匀性测试

吴裕斌

华中理工大学学报1998，Vol.26Issue(8)：58-60,3.
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华中理工大学学报1998，Vol.26Issue(8)：58-60,3.

CCD成像器件的不均匀性测试

吴裕斌1

作者信息

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摘要

关键词

电荷耦合器件/不均匀性/测试/光电传感器

分类

信息技术与安全科学

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吴裕斌..CCD成像器件的不均匀性测试[J].华中理工大学学报,1998,26(8):58-60,3.

华中理工大学学报

OA北大核心

1000-8616

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