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基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现

孙东缪栋

现代电子技术Issue(5)：5-7,3.

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现代电子技术Issue(5)：5-7,3.

基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现

孙东 ¹缪栋¹

作者信息

1. 第二炮兵工程学院302室
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摘要

关键词

边界扫描/测试系统/VLSI芯片

分类

信息技术与安全科学

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孙东,缪栋..基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现[J].现代电子技术,1998,(5):5-7,3.

现代电子技术

ISSN：1004-373X

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