| 注册
首页|期刊导航|电子科技大学学报|高Tc SIS器件I—V特性的研究

高Tc SIS器件I—V特性的研究

胡渝 冯稷

电子科技大学学报Issue(6):6.
电子科技大学学报Issue(6):6.

高Tc SIS器件I—V特性的研究

胡渝 1冯稷1

作者信息

  • 1. 电子科技大学应用物理所
  • 折叠

摘要

关键词

超导/高Tc/SIS器件/有限温度/I-V特性

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

胡渝,冯稷..高Tc SIS器件I—V特性的研究[J].电子科技大学学报,1989,(6):6.

电子科技大学学报

OACSCD

1001-0548

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文