| 注册
首页|期刊导航|计算机应用研究|基于图像处理的BGA封装器件缺陷检测算法

基于图像处理的BGA封装器件缺陷检测算法

蒋刚毅 郁梅 陈晓明 石守东 刘晓

计算机应用研究2002,Vol.19Issue(7):100-101,2.
计算机应用研究2002,Vol.19Issue(7):100-101,2.

基于图像处理的BGA封装器件缺陷检测算法

Defect Detection of BGA Packaging Based on Image Processing Techniques

蒋刚毅 1郁梅 1陈晓明 2石守东 2刘晓2

作者信息

  • 1. 宁波大学,电路与系统研究所,浙江,宁波,315211,北京大学,视听信息处理国家实验室,北京,100871
  • 2. 宁波大学,电路与系统研究所,浙江,宁波,315211
  • 折叠

摘要

关键词

图像处理/BGA封装/缺陷检测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

蒋刚毅,郁梅,陈晓明,石守东,刘晓..基于图像处理的BGA封装器件缺陷检测算法[J].计算机应用研究,2002,19(7):100-101,2.

基金项目

宁波市博士重点基金项目(01J20300-05) (01J20300-05)

宁波市科技攻关项目(01J20100-16) (01J20100-16)

浙江省青年人才基金项目(RC01057) (RC01057)

浙江省自然科学基金项目(601017) (601017)

计算机应用研究

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-3695

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文