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光栅纳米测量中的系统误差修正技术研究

余文新 胡小唐 邹自强

计量学报2002,Vol.23Issue(2):101-105,5.
计量学报2002,Vol.23Issue(2):101-105,5.

光栅纳米测量中的系统误差修正技术研究

Research on Systematic Error Correction in Grating-Based Nanometrology

余文新 1胡小唐 1邹自强2

作者信息

  • 1. 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072
  • 2. 北京光电量仪研究中心,北京,100083
  • 折叠

摘要

关键词

光栅/纳米测量/系统误差/细分误差/误差修正

分类

机械制造

引用本文复制引用

余文新,胡小唐,邹自强..光栅纳米测量中的系统误差修正技术研究[J].计量学报,2002,23(2):101-105,5.

基金项目

国家教委博士点基金(98005635) (98005635)

计量学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-1158

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