真空电子技术Issue(2)：10-12,3.
速调管耦合双间隙腔输出回路的绝对稳定性判据
Criterion of Absolute Stability of Output Circuit with Coupling Two-Gap Cavity of Klystron
林福民 1丁耀根2
作者信息
- 1. 汕头大学,物理系,广东,汕头,515063
- 2. 中国科学院电子学研究所,北京,100080
- 折叠
摘要
关键词
速调管/耦合双间隙腔/输出回路/稳定性/绝对稳定性判据分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
林福民,丁耀根..速调管耦合双间隙腔输出回路的绝对稳定性判据[J].真空电子技术,2004,(2):10-12,3.
