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基于单片机的三极管特性参数测试系统的设计

朱华贵

重庆工业高等专科学校学报2004,Vol.19Issue(6):10-12,3.
重庆工业高等专科学校学报2004,Vol.19Issue(6):10-12,3.

基于单片机的三极管特性参数测试系统的设计

Design of Natural Parameter Testing System of Triode Based on Monolithic Machine

朱华贵1

作者信息

  • 1. 江西财经大学电子学院,南昌,330013
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摘要

关键词

单片机/三极管/采样/特性参数/测试系统

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

朱华贵..基于单片机的三极管特性参数测试系统的设计[J].重庆工业高等专科学校学报,2004,19(6):10-12,3.

重庆工业高等专科学校学报

1673-1999

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