| 注册
首页|期刊导航|西安电子科技大学学报(自然科学版)|提高成品率的VLSI互连线线宽优化

提高成品率的VLSI互连线线宽优化

马佩军 郝跃

西安电子科技大学学报(自然科学版)2002,Vol.29Issue(1):10-14,5.
西安电子科技大学学报(自然科学版)2002,Vol.29Issue(1):10-14,5.

提高成品率的VLSI互连线线宽优化

A VLSI yield improvement methodology based on the optimization of interconnect width

马佩军 1郝跃1

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学,微电子研究所,陕西,西安,710071
  • 折叠

摘要

关键词

成品率/互连线/关键面积/优化

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

马佩军,郝跃..提高成品率的VLSI互连线线宽优化[J].西安电子科技大学学报(自然科学版),2002,29(1):10-14,5.

基金项目

国家科技攻关96-738项目资助 ()

西安电子科技大学学报(自然科学版)

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2400

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文