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关于光学元件波面测量中的功率谱密度

于瀛洁 李国培

计量学报2003,Vol.24Issue(2):103-107,5.
计量学报2003,Vol.24Issue(2):103-107,5.

关于光学元件波面测量中的功率谱密度

Power Spectral Density in Wavefront Measurement of Optical Components

于瀛洁 1李国培1

作者信息

  • 1. 上海大学精密机械工程系,上海,200072
  • 折叠

摘要

关键词

计量学/波面测量/功率谱密度/光学元件

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

于瀛洁,李国培..关于光学元件波面测量中的功率谱密度[J].计量学报,2003,24(2):103-107,5.

基金项目

上海市科技启明星项目 (01QA14201) (01QA14201)

计量学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-1158

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