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基于System View的比特误码率测试的仿真

杨亮 齐林 刘艳霞

现代电子技术2005,Vol.28Issue(2):109-111,114,4.
现代电子技术2005,Vol.28Issue(2):109-111,114,4.

基于System View的比特误码率测试的仿真

Simulation of Bit Error Rate Testing Based on the System View

杨亮 1齐林 1刘艳霞1

作者信息

  • 1. 郑州大学,信息工程学院,河南,郑州,450052
  • 折叠

摘要

关键词

比特误码率/BCH码/卷积码/仿真

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨亮,齐林,刘艳霞..基于System View的比特误码率测试的仿真[J].现代电子技术,2005,28(2):109-111,114,4.

现代电子技术

1004-373X

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