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化学镀铜过程混合电位本质的研究

谷新 胡光辉 林昌健 王周成

物理化学学报2004,Vol.20Issue(2):113-117,5.
物理化学学报2004,Vol.20Issue(2):113-117,5.

化学镀铜过程混合电位本质的研究

In situ Investigation on the Behavior of Mixed Potential in Electroless Copper Plating

谷新 1胡光辉 1林昌健 1王周成2

作者信息

  • 1. 厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室,化学系
  • 2. 厦门大学材料科学与工程系,厦门,361005
  • 折叠

摘要

关键词

化学镀铜/铜基体/陶瓷基体/新生铜/混合电位/诱发时间/活化工艺

分类

化学化工

引用本文复制引用

谷新,胡光辉,林昌健,王周成..化学镀铜过程混合电位本质的研究[J].物理化学学报,2004,20(2):113-117,5.

基金项目

国家高技术研究发展规划(863项目)资助课题(2001AA325100) (863项目)

物理化学学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-6818

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