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4H-SiC功率MESFET的击穿特性

吕红亮 张义门 张玉明 杨林安

半导体学报2004,Vol.25Issue(9):1132-1136,5.
半导体学报2004,Vol.25Issue(9):1132-1136,5.

4H-SiC功率MESFET的击穿特性

Breakdown Characteristics of 4H-SiC Microwave Power MESFETs

吕红亮 1张义门 1张玉明 1杨林安1

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学微电子所,西安,710071
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摘要

关键词

SiC/击穿特性/金属半导体场效应晶体管

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

吕红亮,张义门,张玉明,杨林安..4H-SiC功率MESFET的击穿特性[J].半导体学报,2004,25(9):1132-1136,5.

基金项目

国家重点基础研究发展规划资助项目(No.51327010101) (No.51327010101)

半导体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1674-4926

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