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PDSOI CMOS SRAM单元临界电荷的确定

郭天雷 赵发展 韩郑生 海潮和

电子器件2007,Vol.30Issue(4):1133-1136,4.
电子器件2007,Vol.30Issue(4):1133-1136,4.

PDSOI CMOS SRAM单元临界电荷的确定

Critical Charge Definition for PDSOI CMOS SRAM

郭天雷 1赵发展 1韩郑生 1海潮和1

作者信息

  • 1. 中国科学院微电子研究所,北京,100029
  • 折叠

摘要

关键词

临界电荷/单粒子翻转/PDSOI/寄生三极管/SRAM

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

郭天雷,赵发展,韩郑生,海潮和..PDSOI CMOS SRAM单元临界电荷的确定[J].电子器件,2007,30(4):1133-1136,4.

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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