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高频锁相环的可测性设计

周红 陈晓东

现代电子技术2005，Vol.28Issue(8)：118-120,3.
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现代电子技术2005，Vol.28Issue(8)：118-120,3.

高频锁相环的可测性设计

DFT for High -frequency PLL

周红 1陈晓东1

作者信息

  • 1. 中科院微电子研究所,北京,100029
  • 折叠

摘要

关键词

可测性设计/边界扫描/锁相环/高频

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

周红,陈晓东..高频锁相环的可测性设计[J].现代电子技术,2005,28(8):118-120,3.

现代电子技术

1004-373X

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