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基于多目标遗传优化的容差电路故障屏蔽诊断

彭敏放 何怡刚 沈美娥 贺建飚

电工技术学报2006,Vol.21Issue(3):118-122,5.
电工技术学报2006,Vol.21Issue(3):118-122,5.

基于多目标遗传优化的容差电路故障屏蔽诊断

Tolerance-Circuit Fault Screen Diagnosis Based on Multiobjective Genetic Algorithm

彭敏放 1何怡刚 1沈美娥 2贺建飚3

作者信息

  • 1. 湖南大学电气与信息工程学院,长沙,410082
  • 2. 北京信息工程学院计算机科学与工程系,北京,100101
  • 3. 中南大学信息科学与工程学院,长沙,410083
  • 折叠

摘要

关键词

故障诊断/遗传算法/多目标优化/故障屏蔽/模拟电路

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

彭敏放,何怡刚,沈美娥,贺建飚..基于多目标遗传优化的容差电路故障屏蔽诊断[J].电工技术学报,2006,21(3):118-122,5.

基金项目

国家自然科学基金(50277010),湖南省自然科学基金(04JJ6034),教育部新世纪优秀人才支持计划(NcET-04-0767),湖南省科技计划(04FJ2003,03GKY3115,05FJ3008)资助项目. (50277010)

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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