同济大学学报（自然科学版）2002，Vol.30Issue(10)：1209-1214,6.
RTL集成电路的时序深度
Sequential Depth of Integrate Circuits Based on Register Transfer Level
摘要
关键词
高层次测试/硬件描述语言/时序深度分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
高燕,沈理..RTL集成电路的时序深度[J].同济大学学报（自然科学版）,2002,30(10):1209-1214,6.基金项目
国家"863"高技术研究发展计划资助项目(2001AA111100) （2001AA111100）
