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电子学报
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测量MCP特性参数的紫外光电法
测量MCP特性参数的紫外光电法
田景全
姜德龙
吴奎
电子学报
Issue(5)：121,1.
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电子学报
Issue(5)
：121,1.
测量MCP特性参数的紫外光电法
田景全
1
姜德龙
1
吴奎
1
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关键词
MCP
/
微通道板
/
参数测量
/
紫外光电法
分类
信息技术与安全科学
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田景全,姜德龙,吴奎..测量MCP特性参数的紫外光电法[J].电子学报,1990,(5):121,1.
电子学报
OA
CSCD
ISSN：
0372-2112
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