四川大学学报（自然科学版）2004，Vol.41Issue(6)：1221-1224,4.
原子内壳层电离截面研究中薄靶厚度的卢瑟福背散射分析
Thickness Determination of Thin-fim Samples Used in Atomic Innner-Shell Ionization M easurement by Rutherford Backscattering Spectrometry
摘要
关键词
卢瑟福背散射(RBS)/能量刻度/电子碰撞/原子内壳层电离截面分类
数理科学引用本文复制引用
段艳敏,吴英,唐昶环,刘东剑,丁庆平,刘慢天,安竹..原子内壳层电离截面研究中薄靶厚度的卢瑟福背散射分析[J].四川大学学报（自然科学版）,2004,41(6):1221-1224,4.基金项目
国家自然科学基金委员会与中国工程物理研究院联合基金(10276029)和高等学校博士学科点专项科研基金(20020610019) （10276029）
