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采用铟束流保护下的调制中断生长技术改善(0001)GaN表面形貌

钟飞 周秀菊 王玉琦 邱凯 李新化 尹志军 姬长建 韩奇峰 曹先存 陈家荣 段铖宏

半导体学报2007,Vol.28Issue(8):1221-1225,5.
半导体学报2007,Vol.28Issue(8):1221-1225,5.

采用铟束流保护下的调制中断生长技术改善(0001)GaN表面形貌

Improvement of Surface Morphology of RF MBE Grown(0001)GaN via In-Protected Growth Interruption Modulation

钟飞 1周秀菊 1王玉琦 1邱凯 1李新化 1尹志军 1姬长建 1韩奇峰 1曹先存 1陈家荣 1段铖宏1

作者信息

  • 1. 中国科学院固体物理研究所,材料物理实验室,合肥,230031
  • 折叠

摘要

关键词

调制中断/表面形貌/GaN薄膜

分类

电子信息工程

引用本文复制引用

钟飞,周秀菊,王玉琦,邱凯,李新化,尹志军,姬长建,韩奇峰,曹先存,陈家荣,段铖宏..采用铟束流保护下的调制中断生长技术改善(0001)GaN表面形貌[J].半导体学报,2007,28(8):1221-1225,5.

基金项目

国家自然科学基金资助项目 ()

半导体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1674-4926

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