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IDS技术缺陷分析及其解决方案探索

郭振民

产业与科技论坛2009，Vol.8Issue(3)：122-123,2.
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产业与科技论坛2009，Vol.8Issue(3)：122-123,2.

IDS技术缺陷分析及其解决方案探索

郭振民1

作者信息

  • 1. 河北省科学院
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摘要

关键词

IDS/技术模型/技术缺陷/解决方案

分类

信息技术与安全科学

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郭振民..IDS技术缺陷分析及其解决方案探索[J].产业与科技论坛,2009,8(3):122-123,2.

产业与科技论坛

OACHSSCD

1673-5641

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