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存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用

殷弼君 黄伟平

计算机工程2008，Vol.34Issue(z1)：122-124,3.
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计算机工程2008，Vol.34Issue(z1)：122-124,3.

存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用

Design and Implementation of Memory BIST in IC design

殷弼君 1黄伟平1

作者信息

  • 1. 华东计算技术研究所,上海,200233
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摘要

关键词

可测性设计/存储器内建自测试/双端口寄存器堆文件

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

殷弼君,黄伟平..存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用[J].计算机工程,2008,34(z1):122-124,3.

计算机工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-3428

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