电子科技大学学报2005，Vol.34Issue(1)：127-130,4.
双参数指数分布异常数据的检验
Detection of Outliers from the Two-Parameter Exponential Distribution
李云飞 1黄继伟 1朱宏1
作者信息
- 1. 电子科技大学应用数学学院,成都,610054
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摘要
关键词
双参数指数分布/异常数据/次序统计量/分位数/检验统计量分类
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李云飞,黄继伟,朱宏..双参数指数分布异常数据的检验[J].电子科技大学学报,2005,34(1):127-130,4.
