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基于综合环境加速寿命试验的电子装备故障预测研究

贾占强 蔡金燕 梁玉英 李刚

电子学报2009,Vol.37Issue(6):1277-1282,6.
电子学报2009,Vol.37Issue(6):1277-1282,6.

基于综合环境加速寿命试验的电子装备故障预测研究

Fault Prediction Research of Electronic Equipment Based on Composition Environmental ALT

贾占强 1蔡金燕 1梁玉英 1李刚1

作者信息

  • 1. 军械工程学院光学与电子工程系,河北石家庄050003
  • 折叠

摘要

关键词

温湿度试验/金属腐蚀/加速性能退化/故障预测/可靠性预测

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

贾占强,蔡金燕,梁玉英,李刚..基于综合环境加速寿命试验的电子装备故障预测研究[J].电子学报,2009,37(6):1277-1282,6.

基金项目

国家自然科学基金(No.60472009) (No.60472009)

电子学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0372-2112

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