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n型4H-SiC湿氧二次氧化退火工艺与SiO2/SiC界面研究

马继开 王德君 朱巧智 赵亮 王海波

北京科技大学学报2008,Vol.30Issue(11):1282-1285,4.
北京科技大学学报2008,Vol.30Issue(11):1282-1285,4.

n型4H-SiC湿氧二次氧化退火工艺与SiO2/SiC界面研究

Investigation of n-type 4H-SiC wet re-oxidation annealing process and SiO2/SiC interface

马继开 1王德君 1朱巧智 1赵亮 1王海波1

作者信息

  • 1. 大连理工大学电子与信息工程学院,大连,116024
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摘要

关键词

4H-SiC/MOS电容/湿氧二次氧化退火/SiO2/SiC界面

分类

电子信息工程

引用本文复制引用

马继开,王德君,朱巧智,赵亮,王海波..n型4H-SiC湿氧二次氧化退火工艺与SiO2/SiC界面研究[J].北京科技大学学报,2008,30(11):1282-1285,4.

基金项目

科技部重大基础研究前期研究专项资助项目(No. 2005CCA00100) (No. 2005CCA00100)

辽宁省自然科学基金资助项目(No. 20072192) (No. 20072192)

教育部新世纪优秀人才支持计划资助项目(No. NCET-06-0278) (No. NCET-06-0278)

教育部留学回国人员科研启动基金资助项目(No. 20071108) (No. 20071108)

北京科技大学学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

2095-9389

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