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CMOS集成电路中ESD保护技术研究

王翠霞 许维胜 余有灵 吴启迪 范学峰

现代电子技术2008,Vol.31Issue(8):1-3,3.
现代电子技术2008,Vol.31Issue(8):1-3,3.

CMOS集成电路中ESD保护技术研究

Research of ESD Protection Technology in CMOS Integrated Circuit

王翠霞 1许维胜 2余有灵 2吴启迪 2范学峰1

作者信息

  • 1. 同济大学,半导体与信息技术研究所,上海,200092
  • 2. 同济大学,上海,200092
  • 折叠

摘要

关键词

静电放电/失效模式/ESD保护电路/栅耦舍

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王翠霞,许维胜,余有灵,吴启迪,范学峰..CMOS集成电路中ESD保护技术研究[J].现代电子技术,2008,31(8):1-3,3.

基金项目

863项目:高性能集成型电子镇流器关键技术研究与开发(2006AA052211) (2006AA052211)

现代电子技术

OACSTPCD

1004-373X

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