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逐次截尾样本下电子元件混联系统可靠性指标的EB估计

师小琳

现代电子技术2008,Vol.31Issue(12):1-3,10,4.
现代电子技术2008,Vol.31Issue(12):1-3,10,4.

逐次截尾样本下电子元件混联系统可靠性指标的EB估计

EB Estimation of the Reliability Performance for Compound System with Electronic Components Based on Progressively Censored Sample

师小琳1

作者信息

  • 1. 西安邮电学院,陕西,西安,710121
  • 折叠

摘要

关键词

混联系统/可靠性指标/逐次截尾样本/经验Bayes估计

分类

数理科学

引用本文复制引用

师小琳..逐次截尾样本下电子元件混联系统可靠性指标的EB估计[J].现代电子技术,2008,31(12):1-3,10,4.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(70471057) (70471057)

陕西省教育厅自然科学基金资助项且(03JK065) (03JK065)

现代电子技术

OACSTPCD

1004-373X

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