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陶瓷-金属封接技术的可靠性增长

高陇桥 刘敏玉 刘征

真空电子技术Issue(4):1-3,10,4.
真空电子技术Issue(4):1-3,10,4.

陶瓷-金属封接技术的可靠性增长

Reliability Increasing of Ceramic to Metal Sealing Technology

高陇桥 1刘敏玉 2刘征1

作者信息

  • 1. 北京真空电子技术研究所,北京,100016
  • 2. 国光电气股份有限公司,四川,成都,610051
  • 折叠

摘要

关键词

陶瓷-金属封接/可靠性增长/表面粗糙度/封接结构

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

高陇桥,刘敏玉,刘征..陶瓷-金属封接技术的可靠性增长[J].真空电子技术,2009,(4):1-3,10,4.

真空电子技术

OACSTPCD

1002-8935

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