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电子器件
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基于SRAM测试的MBIST电路实现方案
基于SRAM测试的MBIST电路实现方案
刘学勇
李晓江
马成炎
电子器件
2008，Vol.31
Issue(4)：1307-1309,3.
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电子器件
2008，Vol.31
Issue(4)
：1307-1309,3.
基于SRAM测试的MBIST电路实现方案
Design Implementing of MBIST Circuit Based on SRAM Test
刘学勇
1
李晓江
1
马成炎
1
作者信息
1.
中国科学院微电子所,杭州,310053
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摘要
关键词
SRAM
/
MBIST
/
测试
/
实现
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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刘学勇,李晓江,马成炎..基于SRAM测试的MBIST电路实现方案[J].电子器件,2008,31(4):1307-1309,3.
电子器件
OA
CSTPCD
ISSN：
1005-9490
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