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小子样不可修武器装备的Bayes可靠性增长分析

程皖民 冯静 周经伦 孙权

电讯技术2007,Vol.47Issue(1):13-16,4.
电讯技术2007,Vol.47Issue(1):13-16,4.

小子样不可修武器装备的Bayes可靠性增长分析

Bayes Reliability Growth Analysis for Non-repairable Arm Equipment with Small Samples

程皖民 1冯静 1周经伦 1孙权1

作者信息

  • 1. 国防科技大学,信息系统与管理学院,系统工程系,长沙,410073
  • 折叠

摘要

关键词

小子样不可修产品/可靠性增长/Bayes方法/Gamma-均匀分布/第二类极大似然估计

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

程皖民,冯静,周经伦,孙权..小子样不可修武器装备的Bayes可靠性增长分析[J].电讯技术,2007,47(1):13-16,4.

基金项目

国家高技术研究发展计划(863计划)项目(2003AA845023) (863计划)

电讯技术

1001-893X

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