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倒扣芯片连接底充胶分层和焊点失效

徐步陆 张群 彩霞 黄卫东 谢晓明 程兆年

半导体学报2001,Vol.22Issue(10):1335-1342,8.
半导体学报2001,Vol.22Issue(10):1335-1342,8.

倒扣芯片连接底充胶分层和焊点失效

Underfill Delarnination and Solder Joint Failure of Flip Chip on Board

徐步陆 1张群 1彩霞 1黄卫东 1谢晓明 1程兆年1

作者信息

  • 1. 中国科学院上海冶金研究所
  • 折叠

摘要

关键词

倒扣芯片技术/底充胶/有限元模拟/能量释放率/界面分层与裂缝扩展

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

徐步陆,张群,彩霞,黄卫东,谢晓明,程兆年..倒扣芯片连接底充胶分层和焊点失效[J].半导体学报,2001,22(10):1335-1342,8.

半导体学报

OA北大核心CSCD

1674-4926

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