| 注册
首页|期刊导航|物理学报|微波ECR等离子体增强磁控溅射制备SiNx薄膜及其性能分析

微波ECR等离子体增强磁控溅射制备SiNx薄膜及其性能分析

丁万昱 徐军 李艳琴 朴勇 高鹏 邓新绿 董闯

物理学报2006,Vol.55Issue(3):1363-1368,6.
物理学报2006,Vol.55Issue(3):1363-1368,6.

微波ECR等离子体增强磁控溅射制备SiNx薄膜及其性能分析

Characterization of silicon nitride films prepared by MW-ECR magnetron sputtering

丁万昱 1徐军 1李艳琴 1朴勇 1高鹏 1邓新绿 1董闯1

作者信息

  • 1. 大连理工大学三束材料表面改性国家重点实验室,大连,116024
  • 折叠

摘要

关键词

SiNx/磁控溅射/傅里叶变换红外吸收光谱/X射线电子谱

分类

数理科学

引用本文复制引用

丁万昱,徐军,李艳琴,朴勇,高鹏,邓新绿,董闯..微波ECR等离子体增强磁控溅射制备SiNx薄膜及其性能分析[J].物理学报,2006,55(3):1363-1368,6.

基金项目

国家自然科学基金重大项目(批准号:50390060)资助的课题. (批准号:50390060)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

访问量4
|
下载量0
段落导航相关论文