| 注册
首页|期刊导航|半导体学报|钕离子注入单晶硅光致发光的起源

钕离子注入单晶硅光致发光的起源

肖志松 徐飞 张通和 易仲珍 程国安

半导体学报2001,Vol.22Issue(11):1377-1381,5.
半导体学报2001,Vol.22Issue(11):1377-1381,5.

钕离子注入单晶硅光致发光的起源

Origin of Photoluminescence of Neodymium-Implanted Silicon

肖志松 1徐飞 2张通和 1易仲珍 1程国安3

作者信息

  • 1. 北京师范大学低能核物理研究所射线束技术与材料改性教育部重点实验室,北京,100875
  • 2. 复旦大学应用表面物理国家重点实验室,上海,200433
  • 3. 南昌大学材料科学与工程系,南昌,330047
  • 折叠

摘要

Abstract

Neodymium is incorporated into single crystalline silicon on MEVVA (Metal Vapor Vacuum Arc) ion source. At room temperature, strong ultra-violet and visible fluorescence are observed at the excitation wavelength of 220nm. Luminescence intensity increases with the increase of ion fluence. XPS results manifest that Si-O, NdO, Si Si and O-O bonds exist in the implanted layers. Luminescence mainly results from the radiation transition in the intra-4f shell of Nd3+ ion. The defects' and damages' contribution to the luminescence is also presented.

关键词

光致发光/离子注入/稀土

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

肖志松,徐飞,张通和,易仲珍,程国安..钕离子注入单晶硅光致发光的起源[J].半导体学报,2001,22(11):1377-1381,5.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(59671051). (59671051)

半导体学报

OA北大核心CSCD

1674-4926

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文