液晶与显示2003，Vol.18Issue(2)：138-140,3.
LED光色电综合性能分析测试原理与仪器
LED Photometric, Chromatric, Electric Characteristics Analysis System
潘建根1
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- 1. 杭州远方仪器有限公司,浙江,杭州,310053
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摘要
关键词
LED/快速测量/CIE标准条件分类
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潘建根..LED光色电综合性能分析测试原理与仪器[J].液晶与显示,2003,18(2):138-140,3.
