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测控技术
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SoC可测性技术研究
SoC可测性技术研究
车彬
樊晓桠
测控技术
2009，Vol.28
Issue(6)：1-4,4.
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测控技术
2009，Vol.28
Issue(6)
：1-4,4.
SoC可测性技术研究
Research of Design-on-Testability for SoC
车彬
1
樊晓桠
1
作者信息
1.
西北工业大学,航空微电子中心,陕西,西安,710072
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摘要
关键词
片上系统
/
可测性设计
/
扫描测试
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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车彬,樊晓桠..SoC可测性技术研究[J].测控技术,2009,28(6):1-4,4.
测控技术
OA
北大核心
CSCD
CSTPCD
ISSN：
1000-8829
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