原子能科学技术2008，Vol.42Issue(2)：140-143,4.
紫外激光荧光显微成像技术在光学薄膜损伤测试中的应用
Application of UV Laser Induced Fluorescence Microscopy to Test for Laser Damage of Optical Film
高智星 1汤秀章1
作者信息
- 1. 中国原子能科学研究院,核技术应用研究所,北京,102413
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摘要
关键词
KrF激光/光学薄膜/荧光/激光损伤分类
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高智星,汤秀章..紫外激光荧光显微成像技术在光学薄膜损伤测试中的应用[J].原子能科学技术,2008,42(2):140-143,4.
