电子学报2007，Vol.35Issue(8)：1481-1484,4.
电荷耦合器件辐射效应理论分析与模拟试验方法研究
Mechanism Analysis and Experiment Simulation on Radiation Effects of CCDs
唐本奇 1肖志刚 1王祖军 1张勇 1黄绍艳 1刘敏波 1周辉 1陈伟1
作者信息
- 1. 西北核技术研究所,陕西西安,710024
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摘要
关键词
CCD/辐射效应/理论分析/模拟试验分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
唐本奇,肖志刚,王祖军,张勇,黄绍艳,刘敏波,周辉,陈伟..电荷耦合器件辐射效应理论分析与模拟试验方法研究[J].电子学报,2007,35(8):1481-1484,4.
