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基于加速退化数据的金属化膜脉冲电容器可靠性分析

赵建印 孙权 周经伦 贺少勃 魏晓峰

强激光与粒子束2006,Vol.18Issue(9):1495-1498,4.
强激光与粒子束2006,Vol.18Issue(9):1495-1498,4.

基于加速退化数据的金属化膜脉冲电容器可靠性分析

Failure analysis of metallized film pulse capacitors based on accelerated degradation data

赵建印 1孙权 1周经伦 1贺少勃 2魏晓峰2

作者信息

  • 1. 国防科学技术大学,信息系统与管理学院,系统工程系,长沙,410073
  • 2. 中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900
  • 折叠

摘要

关键词

金属化膜脉冲电容器/激光装置/可靠性/加速试验

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

赵建印,孙权,周经伦,贺少勃,魏晓峰..基于加速退化数据的金属化膜脉冲电容器可靠性分析[J].强激光与粒子束,2006,18(9):1495-1498,4.

基金项目

国家863计划项目资助课题 ()

强激光与粒子束

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-4322

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