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一种新的高分辨率ADC有效位数测试方法

邱兆坤 王伟 马云 陈曾平

国防科技大学学报2004,Vol.26Issue(4):1-5,5.
国防科技大学学报2004,Vol.26Issue(4):1-5,5.

一种新的高分辨率ADC有效位数测试方法

A New Method for Testing ENOB of High-resolution ADC

邱兆坤 1王伟 1马云 1陈曾平1

作者信息

  • 1. 国防科技大学电子科学与工程学院,湖南,长沙,410073
  • 折叠

摘要

关键词

高分辨率/A/D转换器/有效位数

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

邱兆坤,王伟,马云,陈曾平..一种新的高分辨率ADC有效位数测试方法[J].国防科技大学学报,2004,26(4):1-5,5.

基金项目

国家863基金资助项目(2002AA731130) (2002AA731130)

国防科技大学学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2486

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