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全息干涉法在表面封装组件质量检测中的应用

王卫宁 梁镜明 张存林 艾伦 戴福隆

激光技术2000,Vol.24Issue(1):15-19,5.
激光技术2000,Vol.24Issue(1):15-19,5.

全息干涉法在表面封装组件质量检测中的应用

王卫宁 1梁镜明 2张存林 1艾伦 1戴福隆3

作者信息

  • 1. 首都师范大学物理系,北京,100037
  • 2. 香港城市大学物理及材料科学系,香港
  • 3. 清华大学工程力学系,北京,100084
  • 折叠

摘要

关键词

全息干涉法/封装/检测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王卫宁,梁镜明,张存林,艾伦,戴福隆..全息干涉法在表面封装组件质量检测中的应用[J].激光技术,2000,24(1):15-19,5.

激光技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-3806

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