物理学报2003，Vol.52Issue(1)：156-162,7.
高指数稳定硅表面的低能电子衍射图分析
Investigation of stable high-index silicon surfaces by means of LEED pattern analysis
摘要
关键词
硅/高指数表面/近邻面/原胞小面化/低能电子衍射(LEED)分类
数理科学引用本文复制引用
姜金龙,李文杰,周立,赵汝光,杨威生..高指数稳定硅表面的低能电子衍射图分析[J].物理学报,2003,52(1):156-162,7.基金项目
国家自然科学基金(批准号:19634010)资助的课题. （批准号:19634010）
