中国电机工程学报2006，Vol.26Issue(2)：159-164,6.
电气设备零件内部三维缺陷的定量红外识别算法研究
Study on a New Quantitative Thermographic Evaluation Method of Three-Dimensional Subsurface Defect for Electric Apparatus
范春利 1孙丰瑞 1杨立 1刘宝华2
作者信息
- 1. 海军工程大学船舶与动力学院,湖北省,武汉市,430033
- 2. 海军飞行学院教研部,辽宁省,葫芦岛市,125001
- 折叠
摘要
关键词
电气设备/内部缺陷/红外热像仪/导热反问题/Levenberg-Marquardt方法分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
范春利,孙丰瑞,杨立,刘宝华..电气设备零件内部三维缺陷的定量红外识别算法研究[J].中国电机工程学报,2006,26(2):159-164,6.
